Infrarotkameras
Anomalien besser erkennen, Material genauer analysieren
Teledyne FLIR IIS, ein Unternehmen von Teledyne Technologies, freut sich, die 1,3 MP-Kamera Forge 1GigE SWIR (Short Wave Infrared) vorzustellen.
Die erste Kamera der Forge 1GigE SWIR-Serie ist mit einem breitbandigen und hochempfindlichen Sony SenSWIR 1,3 MP IMX990 InGaAs-Sensor ausgestattet. Der fortschrittliche Sensor mit 5 μm-Pixeln erfasst Bilder sowohl im sichtbaren Licht als auch im SWIR-Lichtspektrum (VisSWIR) und bietet einen erweiterten Spektralbereich von 400 nm bis 1700 nm. Diese Fähigkeit verbessert die Erkennung von Anomalien und die Materialanalyse und macht ihn ideal für Anwendungen wie die industrielle Halbleiterinspektion, die Qualitätskontrolle von Lebensmitteln und Getränken, Recycling, Sicherheitsüberwachung, Umweltüberwachung, Precision Farming und viele andere.
„Wir freuen uns, mit der Forge SWIR-Kameraserie unser Bildgebungsportfolio vom sichtbaren Spektrum auf SWIR-Wellenlängen zu erweitern“, sagt Sadiq Panjwani, General Manager bei Teledyne IIS. „Die Serie baut auf der SWIR-Zeilenkamera-Expertise von Teledyne auf und verbessert eine Reihe von 2D-Flächenkamera-Anwendungen wie industrielle Inspektion, Umweltüberwachung und Recycling.“
Die neue Kamera zeichnet sich durch ein Design mit den Abmessungen 40 mm x 40 mm x 43 mm aus, das ein Gleichgewicht aus kompakter Größe und hervorragender Bildqualität schafft. Die Forge 1GigE SWIR bietet fortschrittliche Kamerafunktionen wie Pixelkorrektur, Sequenzer mit ROI (Region of Interest), Logic Block und Zähler, die eine zuverlässige und präzise Steuerung für eine Vielzahl komplexer Anwendungen ermöglichen.
Alle IIS-Kameras werden von den Teledyne Software Development Kits (SDK) Spinnaker 4 und Sapera Processing sowie dem leistungsstarken Trigger-to-Image Reliability (T2IR) Framework unterstützt. T2IR umfasst eine Reihe von programmierbaren Funktionen innerhalb des Teledyne-SDK, die auf Systemebene zusammenarbeitende Hardware- und Softwarefunktionen kombinieren, um die Zuverlässigkeit und Genauigkeit von Prüfsystemen zu verbessern.