Wie neue NI PXI-Module den Aufbau moderner Testsysteme vereinfachen

Viele Entwicklungsteams stehen vor der gleichen Herausforderung: Testumgebungen müssen präziser, skalierbarer und softwaredefinierter werden – gleichzeitig steigen Datenvolumen, Integrationskosten und der Druck, Arbeitsabläufe zu automatisieren. Modulare PXI-Systeme gelten seit Jahren als Standard für synchronisierte Messungen, doch der Einstieg war häufig kosten- oder komplexitätsgetrieben. Emerson erweitert die NI PXI-Plattform nun um neue, kosteneffiziente Hardwaremodule, die genau diese Hürden adressieren.

Die neuen Module – darunter hochauflösende Oszilloskope, Embedded-Controller, Multifunktions-I/O und ein hybrides 18-Slot-Chassis – basieren auf 25 Jahren PXI Entwicklung. Ziel ist es, Entwicklungs- und Testteams schneller zu skalierbaren, softwaregesteuerten Testarchitekturen zu führen, ohne Kompromisse bei Genauigkeit, Timing oder Kanalzahl.

Problem 1: Testsysteme wachsen – aber Messgenauigkeit und Kanalzahl bleiben limitiert

Mit zunehmender Systemkomplexität steigt der Bedarf an Mixed-Signal Analysen und synchronen Erfassungen über viele Kanäle hinweg. Viele Labore arbeiten jedoch noch mit Einzelinstrumenten, die sich nur schwer synchronisieren oder skalieren lassen.

Lösung: Hochauflösende Oszilloskope (NI PXIe 5108)

• 4- oder 8-Kanal-Konfiguration
• 100 MHz Bandbreite
• 250 MS/s
• 14 Bit Auflösung

Das ermöglicht dichte Mixed-Signal-Messungen und präzisere Analysefenster – ohne zusätzliche Rack-Geräte oder zeitkritische Triggerverkabelungen.

Problem 2: Systeme lassen sich nur schwer erweitern – oder sind bereits an der Grenze

Auch gut etablierte Testsysteme stoßen irgendwann an ihre Chassis- oder Bandbreitenkapazitäten.

Lösung: 18-Slot-Hybrid-Chassis (NI PXIe 1081)

• komplett hybrid
• 2 GB/s Systembandbreite
• auf Wachstum ausgelegt

Teams können bestehende Setups weiterverwenden und gleichzeitig Funktionen nach Bedarf ergänzen – ein Vorteil, der klassische Instrumentierungsracks kaum bietet.

Problem 3: Embedded-Controller treiben unnötig Kosten oder passen nicht mehr zu modernen Workflows

Viele Anwendungen benötigen kein GPIB, aber stabile OS Unterstützung, schnellere Verarbeitung und deterministisches Timing.

Lösung: NI PXIe 8842/8862 Embedded-Controller

• Windows 11 oder NI Linux Real-Time
• optimiert für deterministische Messabläufe
• ideal für geschlossene Regelkreise und automatisierte Sequenzen

Das reduziert Overhead und beschleunigt die Umstellung auf softwaredefinierte Teststrategien.

Problem 4: Hohe Präzision bei vielen Kanälen bleibt teuer oder aufwendig umzusetzen

In der Datenerfassung führen analoge Genauigkeitsgrenzen und Kanalrauschen oft zu Fehlerquellen, die sich erst spät identifizieren lassen.

Lösung: 18-Bit-Multifunktions-I/O (NI PXIe 6381/6383)

• 18 Bit Auflösung
• Genauigkeit bis zu 980 µV
• 16 oder 32 Kanäle

Damit lassen sich präzise Analysen und skalierbare DAQ-Setups kombinieren, ohne das Budget zu sprengen.

Softwaredefinierte Tests als Basis für zukünftige KI-Workflows

Alle neuen Module sind nativ in LabVIEW™, TestStand™ und InstrumentStudio™ integrierbar. Teams, die ihre Testabläufe stärker automatisieren möchten oder KI-gestützte Analyseprozesse vorbereiten, profitieren von:

• synchronisierten Datensätzen
• deterministischem Timing
• hoher Kanaldichte
• verlässlicher Skalierbarkeit

Diese Eigenschaften sind die Grundlage für kommende KI-Anwendungsfälle wie Echtzeit Anomalieerkennung, adaptive Testsequenzen oder automatisierte Ergebnisevaluierung.

Ein klarer Fokus: den Einstieg in moderne Testsysteme erleichtern

„Seit 25 Jahren ermöglicht unsere modulare NI PXI-Plattform unseren Kunden, ihre Investitionen in Messtechnik zukunftssicher weiterzuentwickeln“, sagt Charles Schroeder, NI Fellow im Geschäftsbereich Test & Measurement bei Emerson. „Mit den neuen Produkten können noch mehr Testingenieure ihre Arbeitsabläufe verbessern und ihre Produktivität steigern.“

Wie die neuen Module in bestehende PXI Architekturen integriert werden können, zeigt Emerson im Webinar „Scope It Out“.

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