Unterstützt die elektrische Prüfung von PCI Express 6.0

Teledyne LeCroy kündigt die Unterstützung für den elektrischen Test und die Validierung von PCI Express 6.0 mit der vollautomatischen Testsoftware QPHY-PCIE6-TX-RX sowie den Softwarepaketen SDAIII-PCIE6 und SDAIII-PAMx Softwarepakete zur Charakterisierung und Fehlersuche.

Das Wachstum neuer Technologien, einschließlich künstlicher Intelligenz/Maschinenlernen (AI/ML) und High-Performance-Computing (HPC), erhöht die Nachfrage nach schnellem Zugriff auf große Datenmengen. Um diese wachsende Nachfrage zu unterstützen, wird die nächste Generation von PCI Express, PCIe 6.0, Multi-Level-Signalisierung (PAM4) verwenden, um die Datenübertragungsgeschwindigkeit gegenüber den 32 GT/s von PCIe 5.0 zu verdoppeln. Während dies dazu beiträgt, den Bedarf an schnellem Datenzugriff zu befriedigen, wird der neue Multi-Level-Signalisierungsansatz erhebliche neue Testkomplexitäten für Systementwickler schaffen.

Die neue vollautomatische Testsoftware QPHY-PCIE6-TX-RX von Teledyne LeCroy sowie die SDAIII-PCIE6- und SDAIII-PAMx, die zusammen mit einem Teledyne LeCroy LabMaster 10 Zi-A Oszilloskop und der SDAIII-CompleteLinQ Software zur Analyse serieller Daten verwendet werden, bieten PCIe-Entwicklern die Werkzeuge, die sie zum Testen und Debuggen komplexer PCIe 6.0 Geräte benötigen. Diese neue Lösung kann:

• Berechnung und Anzeige des Jitters in drei einzigartigen Übergangsgruppierungen.
• Messung der Einstellungen für die Senderentzerrung (Tx EQ) mit Ergebnissen und Methoden, die mit den aktuellen SigTest AC Fit-Methoden übereinstimmen.
• Bereitstellung von anpassbaren Setups für die Messung von voreingestellten Cursors und Wellenformen unter Verwendung einzigartiger Tools für die Senderentzerrung.
• Messung des Signal-Verzerrungs-Verhältnisses (SNDR) mit robuster Oszilloskop-Rauschkompensation und leistungsstarken Signalanalyse-Wellenform-Ansichten.