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Hochfrequenztests am Limit (von MEMS-Sensoren)

Hochmoderne Sensoren für Anwendungen wie Mobility und Automotive benötigen Spezialtestsysteme für hochfrequente Schwingungsanregung. Mit den Schwingungserregern DRE-01 und SE-16 stößt SPEKTRA in neue Leistungsbereiche vor, welche beim Test dieser digitalen Sensoren der nächsten Generation relevant werden.

Der dynamische Drehratenerreger DRE-01 wird vor allem zur Kalibrierung von Drehratensensoren eingesetzt oder zur Charakterisierung von MEMS Gyroskopen. Er überzeugt mit hervorragenden Eigenschaften, wie:

  • Drehrate: 1 Hz … 5 kHz
  • 5600 dps
  • Maximale Winkelbeschleunigung: 2 200 000 °/s²

Geeignet für typische Prüflingsgrößen von 100 mm² bis 250 mm², z.B. Prototypenplatinen mit MEMS Gyroskopen (mittlere Prüflingsmasse zw. 50 und 500 g).

Der Schwingungserreger SE-16 beeindruckt mit der höchsten mechanischen Anregungsfrequenz, die derzeit auf dem Markt zu finden ist. Er wurde speziell für die hochfrequente Schwingungsanregung von kleinen Bauteilen und Sensoren in Längs- und Querrichtung entwickelt. Durch das spezielle Design der Armatur und deren Lagerung können die Prüflinge nahezu querbeschleunigungsfrei im Frequenzbereich von 5 kHz bis 200 kHz angeregt werden.

  • Linearanregung bis 200 kHz
  • Maximale Prüflingsmasse: 5 g
  • Koppelfläche: 225 mm²
  • Geringe Querbeschleunigung

Beide Erreger sind Teil der S-TEST Lab Produktlinie von SPEKTRA, die Lösungen für Zukunftstechnologien in Laboren und Entwicklungsumgebungen bietet. Die Messwerte der mit diesen Erregern stimulierten digitalen Sensoren können mit dem S-TEST System direkt überprüft werden, wobei alle gängigen Standardinterfaces unterstützt werden wie z.B. SPI, I2C, CAN, PSI5 etc..

Das erlaubt, bereits in frühen Phasen der Sensorentwicklung die korrekte Funktion zu überprüfen und damit frühzeitig Änderungen und Anpassungen vorzunehmen. Die Vorteile liegen auf der Hand: die Hersteller profitieren langfristig von deutlichen Kostenersparnissen im Lebenszyklus und die Endverbraucher von zuverlässigeren und störunanfälligeren Sensoren.

Erfahren Sie mehr: Hochfrequenztests am Limit


17.10.2018

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