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Mikroskopie: Proben und Objektive nanometergenau positionieren


In der Mikroskopie ist die exakte Positionierung von Proben und Objektiven die Voraussetzung um zuverlässig interpretierbare Bilddaten zu erhalten. In der neuen Broschüre „Nanopositioning for Microscopy“ gibt Physik Instrumente (PI) anhand zahlreicher Anwendungsbeispiele einen Überblick über entsprechende Positionierlösungen.

Von Routinemikroskopie über Höchstauflösende Mikroskopie bis zu Partikelstrahl- und Rasterkraftmikroskopie: überall spielt die Positionierung von Proben – statisch wie dynamisch – eine entscheidende Rolle für die Qualität von Mikroskop-Bildern und deren Interpretation. Neben der Positionierung der Probe mit bis zu sechs Freiheitsgraden ist dafür häufig auch eine Bewegung des Objektivs in Z-Richtung nötig.

Für diese Aufgaben hält PI ein umfangreiches Produktportfolio bereit, das auf Basis verschiedener Antriebstechnologien, wie Piezo- oder Motorantrieben, eine präzise Positionierung bis in den Nanometerbereich mit hoher Wiederholgenauigkeit ermöglicht. Eine übersichtliche Darstellung des Angebots zeigt PI jetzt in der neuen Broschüre „Nanopositioning for Microscopy“ anhand zahlreicher Mikroskopietechniken. Ergänzt wird diese Übersicht durch neu gestaltete Produktfinder für die Probenpositionierung und die Z-Nanopositionierung und neue Konfigurationsdiagramme für PIFOC® Objektivscanner, inklusive Informationen zu passenden Controllern. Die Digitalversion der Broschüre in Form einer pdf-Datei ermöglicht zudem einen direkten Zugriff auf die entsprechenden PI-Webseiten mit detaillierten Produktdaten.

Weitere Informationen und ein Download der Broschüre finden sich im PI Blog: Präzise Positionierung von Proben und Objektiven


06.02.2019

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