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High-Speed Interconnect Analyzer

Zeigt detailliert Zeit- und Frequenzbereich in einer einzigen Aufnahme an

Teledyne LeCroy hat seinen High-Speed-Interconnect-Analyzer WavePulser 40iX vorgestellt, der eine Lösung für das umfangreiche Testen und Validieren vieler Verbindungstypen bietet. Er ist ein Tool für Testingenieure im Hochgeschwindigkeitsbereich zur Charakterisierung und Analyse von Verbindungen und Kabeln für serielle High-Speed Protokolle wie PCI Express, HDMI, USB, SAS, SATA, Fibre Channel, InfiniBand, Gigabit Ethernet und Automotive Ethernet.

Bisher wurden das Testen und Validieren von Verbindungen zwischen Zeit- und Frequenzbereichstests getrennt. Signal-Integritätsingenieure verwenden TDRs, um die Step-/Impulsantwort durch Erzeugen eines Impedanzprofil zu charakterisieren. TDRs zeichnen sich durch eine hohe räumliche Auflösung aus, die eine präzise Lokalisierung von Störstellen entlang der Übertragungsleitung ermöglicht, die durch Veränderungen im Impedanzprofil gekennzeichnet sind. Für den Frequenzbereich Test werden VNAs, die sich durch einen hohen Dynamikbereich auszeichnen, typischerweise von Ingenieuren im Hochfrequenzbereich verwendet, um S-Parameter von Hochfrequenz-Komponenten (RF) zu messen. Bei der Anpassung an High-Speed Interconnect-Tests leiden VNAs unter der Notwendigkeit, die Reaktion auf DC zu extrapolieren und unter Verwendung von unübersichtlichen Analyse-Tools für die Simulation, Emulation, Zeitsteuerung und Jitter-Analyse von Zeitbereichen. Keines der beiden Prüfgeräte erfüllt die Anforderungen von Designingenieuren, die Verbindungen bei High-Speed Signalen testen und validieren.

Der WavePulser 40iX soll den Prozess des High-Speed-Interconnect-Tests und der Validierung durch die Vereinheitlichung von Zeit- und Frequenzbereichs-Charakterisierungen vereinfachen. Er führt in einer einzigen Erfassung und in einem Gerät eine vollständige S-Parameter-Frequenzcharakterisierung wie ein Vektor-Netzwerkanalysator (VNA), ein Impedanzprofil wie ein Zeitbereichsreflektometer (TDR) und einer umfangreichen Toolbox durch. Der WavePulser 40iX sei schnell kalibriert und einfach zu bedienen, so der Anbieter. Er vereinfache die Komplexität des physikalischen Signalwegs und charakterisiere sehr präzise serielle Datenkabel, Kanäle, Stecker, Durchkontaktierungen, Backplanes, Leiterplatten, Chip- und SoC packeges und vieles mehr. Die gemessenen S-Parameter können auch für zusätzliche Analysen verwendet werden, einschließlich Time Gating, De-Embedding von Verbindungen, Augendiagramme, optimierte Equalizer-Einstellungen, Simulation von seriellen Datenmustern und erweiterte Jitter-Analyse mit Aufteilung in Komponentenelemente.

"Der WavePulser 40iX vereint den Zeit- und Frequenzbereich in einem Gerät und ermöglicht die Erkennung von Störstellen wie schlecht konfektionierte Stecker, mechanisch beschädigte Kabel oder die Lokalisierung von Diskontinuitäten im Kanal", sagt Eric Bogatin, hoch anerkannter Signal Integrity Spezialist weltweit. "Solche Störstellen sind mit S-Parametern im Frequenzbereich allein deshalb nicht zu erkennen, weil diese Effekte über den Frequenzgang des Prüflings verteilt sind, aber der WavePulser 40iX identifiziert und lokalisiert sie mit einer räumlichen Auflösung von weniger als 1 mm. Es bietet auch sowohl Single-Ended- als auch Mixed-Mode S-Parameter-Messungen (auch zur Simulation) von DC bis 40 GHz. Ohne WavePulser 40iX werden bis zu vier verschiedene Software-Tools benötigen, um S-Parameter und de-embed fixtures zu messen und Zeit- oder Frequenzbereich als Single-Ended- oder Mixed-Modus anzuzeigen und Augendiagramme zu simulieren."


08.07.2019

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