Contactor

Erweiterung der neuen Y-RED Generation

Erweiterung der neuen Y-RED Generation

Die Produktreihe Y-RED von Yamaichi Electronics bekommt Zuwachs. Neben der Evaluation und Validierung von IC-Chips stehen nun auch Anwendungen der Fehleranalyse und Labormessungen mit niedriger Induktivität im Fokus.

Mit über Jahrzehnte langer Erfahrung in der Entwicklung von kundenspezifischen Test Contactoren, kombiniert der Y-RED hochwertige Technologie und standardisierte Elemente mit vereinfachter, benutzerfreundlicher Montagetechnik. Als erstes Produkt der neuen Generation Y-RED wurde Ende 2019 der Standard Test Contactor für Anwendungen zur Bauteilqualifikation veröffentlicht. Nun folgen gleich mehrere Erweiterungen dieser Produktreihe.

Der Y-RED Failure Analysis

Während die bereits erhältliche Y-RED Variante vor allem in der Evaluation und Validierung (EV) von Chips eingesetzt wird, ist der neue Test Contactor auf die sensorische Analyse von Fehlern (FA) spezialisiert. Durch eine Öffnung im Deckel ist nun die gesamte Komponente während des Testens sichtbar. Eine eingelegte kratzfeste und rissbeständige Glasplatte sorgt mit sehr weiter Transmissionskurve dabei für gleichmäßige Druckverteilung während der Kontaktierung. Diese Eigenschaften sind ideal um Chipuntersuchungen mit Solid Immersion Lens und Emission-Mikroskopie durchzuführen.

Erweiterte Größenvielfalt

Für das Testen von Komponenten der Abmessungen zwischen 1,5mm x 1,5mm und 5mm x 5mm ist außerdem sowohl beim Y-RED EV, also auch bei dem neuen FA-Test Contactor eine kleinere Variante erhältlich. Durch deutlich kompaktere Bauweise kann nicht nur Bauraum auf dem Evaluation-Board/ der PCB gespart werden, die Messung findet auch näher an der Komponente statt. Das Rastermaß startet bereits bei 0,3 mm, der Anwendungstemperaturbereich ist von -40°C bis +150°C spezifiziert.

Bei Abmessungen größer 5 mm x 5 mm bis maximal 12 mm x 12 mm wird der große Formfaktor Y-RED verwendet. Die Y-RED Test Contactoren sind sowohl für LGAs, QFNs als auch für BGAs / (WL)CSPs konzipiert.

Low-Inductance Probe Pin

Für Labormessungen mit Anforderungen besonders niedriger Induktivität ist außerdem ein Low-Inductance Pin erhältlich. Dieser kann in alle vorgestellten Test Contactoren eingebaut werden, wodurch die hohe erreichbare Performance in diverse Anwendungsgebiete eingebracht und die verschiedenen Vorteile optimal kombiniert werden können.

Mit einer Kontakthöhe von lediglich 2,80 mm wird eine Selbstinduktivität von kleiner 0,80 nH erreicht. Es wird ein Rastermaß zwischen 0,3 mm und 0,5 mm umgesetzt. Der Anwendungstemperaturbereich liegt zwischen -40°C bis +125°C.

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