Verbesserte Leistung, vereinfachte Sicherheitstests

Keysight Technologies hat die Markteinführung der Next-Generation Embedded Security Testbench angekündigt, einer konsolidierten und skalierbaren Testlösung, die für die zunehmend komplexen Sicherheitstestanforderungen moderner Chips und Embedded-Geräte entwickelt wurde. Diese neue Lösung bietet eine erhöhte Flexibilität, reduziert die Komplexität des Testaufbaus und verbessert die Zuverlässigkeit und Reproduzierbarkeit von kritischen Sicherheitsevaluierungen.

Die zunehmende Verbreitung vernetzter Geräte und die immer komplexeren Sicherheitsrisiken stellen Entwickler und Sicherheitslabors vor große Herausforderungen. Herkömmliche Sicherheitstests beinhalten oft umständliche Setups mit mehreren unterschiedlichen Messgeräten, was zu erhöhter Komplexität, längeren Testzeiten und potenziellen Unstimmigkeiten bei den Ergebnissen führt. Die Next-Generation Embedded Security Testbench löst diese Probleme, indem sie eine einheitliche und effiziente Plattform für die umfassende Analyse der Sicherheit von Geräten bietet.

Die neue Testlösung nutzt eine Hochgeschwindigkeits-PXIe-Architektur, die für die komplexen Anforderungen moderner Sicherheitstests ausgelegt ist. Sie stellt eine bedeutende Weiterentwicklung der Produktlinie Device Vulnerability Analysis dar. Diese robuste Architektur ermöglicht es der Next-Generation Embedded Security Testbench, bis zu zehnmal effektivere Ergebnisse bei Seitenkanalanalysen (SCA) und Fault-Injection-Tests (FI) zu erzielen, die für die Identifizierung und Entschärfung hardwarebasierter Schwachstellen entscheidend sind.

Die Embedded Security Testbench ist eine modulare Lösung, die unterschiedlichen Testanforderungen gerecht wird. Durch die Integration wichtiger Komponenten wie Oszilloskope, Interface-Geräte, Verstärker und Triggergeneratoren in ein einziges PXIe-Gehäuse wird der Bedarf an umfangreicher Verkabelung erheblich reduziert und die Kommunikationsgeschwindigkeit zwischen den Modulen erhöht.

Die Plattform besteht aus drei Kernkomponenten: dem PXIe-Gehäuse M9046A, dem High-Performance-Embedded-Controller M9038A und der Inspector-Software. Die Lösungspakete können je nach Bedarf um zusätzliche Tools für komplexe Prüfszenarien erweitert werden, die Oszilloskope und zusätzliche elektromagnetische (EM) Komponenten enthalten. Keysight setzt sich für die kontinuierliche Weiterentwicklung der Embedded Security Testbench ein und plant für die Zukunft die Einführung weiterer verbesserter Module.

Wei Yan Mao, Director of Operations bei Applus+ Laboratories: „Bei Applus+ Laboratories sehen wir die technischen Möglichkeiten und die Flexibilität dieser neuen Plattform und wollten zu den ersten gehören, die sie in unseren akkreditierten IT-Sicherheitsevaluierungseinrichtungen (ITSEF) einsetzen.“

Erwin in 't Veld, Produktmanager, Device Security Research Lab bei Keysight: „Mit der Next-Generation Embedded Security Testbench setzen wir einen neuen Standard für Sicherheitstests von Geräten. Durch die Steigerung der Leistung und Flexibilität innerhalb eines vereinfachten Workflows und durch die inhärente Skalierbarkeit versetzen wir unsere Anwender in die Lage, die heutigen Sicherheitsherausforderungen effektiv zu bewältigen und sich an zukünftige Fortschritte anzupassen.“

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